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ZML310外用制劑粒度儀工作原理是通過(guò)專用高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)和光學(xué)顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來(lái)并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，用專門的顆粒圖像分析軟件對(duì)顆粒圖像進(jìn)行分析，并通過(guò)顯示器和打印機(jī)輸出分析結(jié)果。

ZML-310顯微鏡圖像法粒度儀由顯微鏡、高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、分析軟件、計(jì)算機(jī)等部分組成。廣泛適用于API原料藥，藥物晶型分析、生物醫(yī)藥、磨料、電池、非金屬礦、粉末冶金、石油能源、涂料、顏料、陶瓷、食品等領(lǐng)域的各種粉體顆粒的粒度大小、形狀特征觀察和測(cè)量。

ZML310顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測(cè)量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)，具有直觀、可視、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬、操作簡(jiǎn)單、測(cè)量參數(shù)全面等特點(diǎn)。能夠同時(shí)測(cè)量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

ZML-310透皮乳膏粒度儀是采用顯微鏡圖像法測(cè)量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、分析軟件、計(jì)算機(jī)等部分組成。

粒度粒形儀,納米激光粒度儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析,其特點(diǎn)是粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬,分辨能力高;操作簡(jiǎn)便快捷,自動(dòng)化程度高,可廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室,質(zhì)量控制部門以及其他粒度分析領(lǐng)域.

粒度粒形儀,動(dòng)態(tài)光納米粒度儀介紹： 當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號(hào)隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)速度高

美國(guó)DT電聲法zeta電位儀介紹：$nDT300粒度和Zeta電位分析儀器采用技術(shù)---多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta 電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用DT-300直接進(jìn)行測(cè)量。

KF100力學(xué)法表面張力儀具有超高分辨率，可達(dá)0.01mN/m。使用先進(jìn)的伺服電機(jī)，保證樣品臺(tái)的升降平穩(wěn)。測(cè)量速度達(dá)50Hz，每20毫秒出一個(gè)數(shù)據(jù)。并內(nèi)置白光LED照明，易于尋找測(cè)量界面。